機械・電気関連の翻訳例

射出成型品の導電性 (和訳例)

 

Property prediction of carbon Nanotube-polymer composites in melt processing

溶融加工におけるカーボンナノチューブ-ポリマー複合体の性質予測

 

Provide insight into the interplay of formation and destruction of as CNT filler conductive network in polymer matrices and determine conductivity of CNT –polymer composites.

ポリマーマトリックスにおけるCNTフィラー導電性ネットワークの形成と分解の相互作用を理解し、CNTポリマー構成素子の導電性を算出する。

 

Melt processing of the polymer matrix and simulation of the conductivity and mechanical properties of CNT filled plastic to optimize the process conditions.

ポリマーマトリックスの溶融加工と、加工状態を最適化するためのCNT充填プラスチックの導電性と機能的性質のシミュレーション

 

Experimental determination of conductivity of CNT filled polymer melts under defined shear conditions.

明確な煎断条件下におけるCNT充填ポリマー溶融物の導電性の実験的算出。

 

Finite element modeling (FEM) to provide insight to temporal evolution and distribution of conductivity in injection molded parts.

射出成型品における導電性の分布と一時的な生成を理解するための有限要素モデル(FEM)

 

Melt processing of the polymer matrix and dispersion of CNT as filler

ポリマーマトリックスの溶融加工と、充填剤としてのCNTの分散

 

Experimental determination of electrical conductivity of CNT filled polymer melts

CNT充填ポリマー溶融物の導電性の実験的算出

 

Modification of plates of rheometer to effect uniform shearing

一様な煎断加工を効率化させるための流動計プレートの改質

 

Measure conductivities by a dielectric analyzer at a wide range of frequencies

広帯域の周波数を対象とした誘電性分析で導電性を測定

 

Kinetics of agglomeration and reagglomeration (structure of CNT-polymet network) and kinetics of redispersion (destruction of CNT network) increase with increasing shear rate.

凝集と再凝集(CNTポリマーネットワークの構造)の動態と再分散(CNTネットワークの分解)の動態は煎断速度の上昇に伴い亢進する。

 

Conductivity can be controlled by annealing the sample; unannealed sample has low conductivity compared to annealed sample

導電性はサンプルの焼なましで制御可能である(焼なましを受けていないサンプルは、焼なましを受けたものと比較してその導電性が低い)

 

Knowledge on the dependence of material and component properties on the processing conditions during melt processing of carbon nanotube-polymer composites can help improve product quality and efficiency.

カーボンナノチューブ-ポリマー構成物の溶融加工中の加工状態に対する物質の依存性と構成要素に関する知識は、製品の品質と効率性を改善させる上で役に立つ。

 

Combination of in-line process monitoring, laboratory tests, development of material models and implementation into process simulation can contribute to optimize the manufacturing process and the electrical and mechanical properties of the final CNT-polymer composites.

インライン式加工モニタリングと実験室試験、物質モデルの開発、および加工シミュレーションを行えば、製造プロセスとCNTポリマー最終複合体の機能的性質を最適化できる。

 

Implementation of FEM enabled apriori prediction of temporal evolution nd distribution of conductivity in injection molded parts.

FEMを用いれば、射出成型品の導電性の分布と一時的な生成を事前に予測できる。

日本語→英語

電圧計の入力抵抗とは何か
What is the input resistance of a voltmeter?


電圧計を用いて電圧測定を行う際の接続図を図1に示す。被測定電圧源Vdutを電圧計で測定したい場合、図のように接続するのが普通である。ここで、理想的な電圧計は入力抵抗(内部抵抗)が無限大であるため、被測定電圧源から電流計に向かって流れる電流Iはゼロとなる。このとき、電圧計の指示値(測定値)はVdutと一致する。
Figure 1 shows a simplified block diagram when measuring a source voltage (Vdut) using a voltmeter. This is a typical connection when measuring the voltage of the Vdut where the voltmeter is considered as an ideal voltmeter, hence the input resistance of the voltmeter is infinite and the current flowing from the Vdut to the voltmeter is zero amperes. In this ideal case, the voltage reading measured by the voltmeter is the same as the Vdut.


ところが、現実の電圧計の入力抵抗は有限な値であるため、実際には図2のように入力抵抗Rinputが理想電圧計と並列に存在することになり、結果として被測定電圧源から流れる電流はゼロではなくなる。
But, in reality, actual input resistance of any voltmeter is not infinite as the ideal voltmeter, and there exists an input resistance (Rinput) in parallel to the ideal voltmeter as shown in Figure 2. As results, the current flowing from the voltage source is not a zero amperes.


一般的なディジタル・マルチ・メータの入力抵抗は10MΩであり、高級機では10GΩ以上の入力抵抗を保証するものも存在する。このとき、VdutとRinputとで決まる電流がこの回路に流れることになるが、図2の状況ではこの電流は電圧測定の結果に影響を及ぼすものではない。しかしながら、条件によってはこうした有限な入力抵抗が電圧測定結果に誤差をもたらすことがあるため注意が必要である。次章でその事例を紹介する。
An input resistance of a typical digital multi-meter is 10 MΩ, but there also existes a high-performance digital multi-meter which input resistance is more than 10 MΩ. Although an input current, determined by the Vdut/Rinput, is flowing into the voltmeter in these actual measurement conditions, the input current does not affect to the voltage measurement results in the case shown in Figure 2. However, it should be noted that there is a possibility that finite input resistance cause errors in the voltage measurement results in some cases. The next chapter will look at the cases.


電圧測定における測定誤差と対策
Voltage measurement error and its countermeasure


電圧計の入力抵抗が生む測定誤差
Voltage measurement error which is caused by the finite input resistance of a voltmeter


電圧計に電流が流れることによって測定誤差が生じるのは、測定回路に存在する直列抵抗を考慮した場合である。図3のように、被測定電圧源と電圧計との接続パスに直列抵抗が存在する場合を考える。この直列抵抗は配線の持つ抵抗であったり、配線の途中に存在するコネクタの接触抵抗であったり様々である。
In a case where a series resistance between the voltage source and the voltmeter cannot be ignored, the voltage drop generated by this resistance and the input current flowing into the voltmeter is the source of the measurement error. Figure 3 shows an example where series resistors exist in the connection cables between the voltage source and the voltmeter, where the series resistors include a resistance of the connection cables, a contact resistance of the connector between the cable connections, and etc.


接続パスの直列抵抗Rpathに対して電流Iが流れることによりVerrが発生し、これが被測定電圧源と電圧計の指示値との誤差となる。ただし、通常はこうした接続パスの直列抵抗は数mΩから数Ωの範囲内であることが多い。そのため、電圧計の内部抵抗に対して十分小さく、誤差Verrは限定的となる。ここまでは被測定電圧源の出力抵抗を考慮していなかったが、場合によっては図4のように被測定電圧源が出力抵抗を持つことも考えられる。
The current I flowing to the series resistance (Rpath) generates a voltage drop (Verr), and this appears as the difference between the voltage source under test and the measurement error of the voltmeter reading. However, the series resistance value such like as existing between the connection paths is typically from a few mΩ to a few Ω, and this resistance can be considered as negligibly small compared to the input resistance of typically used voltmeters. In this case, since the voltage error is expressed as the ratio of the Rpath and the Rinput (the ratio is about in the range of 10-8 to 10-6), the voltage error caused by the Verror in the connection path can be negligble  in most of the applications. So far, the output resistance of the voltage source is assumed as 0 Ω, but there would be a case that the volage source in under test has an output resistance (Rout) as shown in Figure 4.


電気回路において大きなRoutが存在することは少ないが、例えば電気化学測定においてガラス電極を用いて電圧測定を行うケースではRoutの値は数100MΩにも達する。
In the electrical circuit, there are not so many cases where the Rout is large enough to show obvious error in the voltmeter readings, but in such a case where a current source or equivalent is used as the voltage source, the Rout easily exceeds, for example, the value of Rout in the case of performing the voltage measurement using a glass electrode in an electrochemical measurement can reach several 100MΩ.


Routの値がRinputの値に比べて十分小さければVmeasはVdutとほぼ同じ値となるが、Routの値が無視できない程度に大きい場合には測定誤差の原因となる。例えばRinputが10MΩの電圧計を用いて誤差1%以内で電圧測定を行いたいとすれば、Routに許される値は100kΩまでとなる。
If the Rout is negligibly small compared to the Rinput, the Vmeas shows almost the same value as the Vdut. However, if the Rout is large enough which cannot be ignored compared to the Rinput, it is a cause of the voltage measurement error. For example, performing a measurement within a 1% error using a voltmeter with a 10 MΩ Rinput resistance, the maximum Rout in the voltage source is limitted to 100 kΩ maximum.


このように高い出力抵抗を持つ被測定電圧源に対して電圧測定を行う際には、電圧計の入力抵抗が誤差要因となるため、可能な限り入力抵抗の高い電圧計を選択する必要がある。前述の通り、一般にディジタル・マルチ・メータの入力抵抗は10MΩから10GΩといった範囲であるが、エレクトロメータの入力抵抗は100TΩを超える。
As this example shows, for measuring a high output R voltage source, it is important to use a voltmeter with the highest input resistance as possible, since the input resistance of the voltmeter is the cause of the measurement error. As described above, generally the input resistance of the digital multi-meter is in the range such as 10MΩ - 10GΩ, the input resistance of the electrometer exceeds 100TΩ.

日本語→英語

 

 

インドは世界第6位の自動車生産国である。さらに、アジアでは二輪車の生産台数が第2位、商用車が第5位、乗用車が4位、トラクターが1位となっている。

India is word's sixth largest vehicle manufacturer globally. Further, India is the Asia's second  largest two wheeler manufacturer and  fifth largest produce of commercial vehicle, fourth largest manufacturer of passenger car and  and the largest manufacture of tractor.

 

 

ここ23年の高金利、燃料高騰や全体的な経済停滞により、乗用車、商用車、二輪車、三輪車の売上高は打撃を受けた。

Sales across passenger cars, commercial vehicles, two‐wheelers, and three-wheelers have been affected in the past2–3 years due to high interest rates, rising fuel prices, and the overall economics lowdown.

 

 

最新技術を持つ新しいメーカーが相次いでこの部門に参入し、少数の企業による寡占状態を変えた。

The sector has witnessed the entry of several new manufacturers with state of the art technology, thus replacing the monopoly of a few manufacturers.

 

 

輸出販売という点では二輪車が大部分のシェアを占めており、その主な輸出先はアジアとアフリカの市場である。

Two wheelers account for a majority of the share in terms of export sales, with key export destinations being the markets in Asia and Africa.

 

 

輸入税の引き上げと不透明な世界経済環境により、二輪車の輸出は12年度、過去10年間で初の微減となった。

Two-wheeler exports declined slightly in FY12 for the first time in the last decade on account of hike in import duty and uncertainties in the global economic environment.

 

 

政府は雇用創出、生産性の向上、技能と技術の移入、輸出増加、さらに国の長期的な経済発展をもたらす可能性があるFDIを推進している。

The government favors FDI as it has the potential to generate employment, raise productivity, transfer skills and technology, enhance exports, and long-term economic development of the country.

 

 

世界からインドへのOEM生産の委託の増大と世界のOEM生産の現地化により、インドは設計と製造の有利な拠点になりつつある。

The growth of global OEM sourcing from India and the increased indigenization of global OEMs is turning the country into a preferable designing and manufacturing base.

電気泳動装置 (英訳サンプル)

フリーフロー電気泳動装置は、上流から下流へと層流により試料を流し、側方の電極により垂直方向に電界を印加することで、電気泳動度の違いにより細胞やたんぱく質の分離・分取するための装置である。

The compact free-flow electrophoresis equipment is used to separate or isolate cells based on the differences in electrophoretic mobility by the upstream to downstream circulation of the specimen and applying an electric field in the perpendicular direction using lateral electrodes.

 

 

 

装置の小型化については今までも研究されているが、ガラスやシリコン材料等を使用してMEMS加工により作製しているためコストが高いことや電極槽で発生した気泡により長時間の安定的な動作ができない、量産化が難しいなどの課題があった。

To date, studies to reduce the size of the device have been conducted, but since manufacturing is based on MEMS process using glass or silicon materials, problems such as high cost, formation of air bubbles which does not allow stable operation over a long period, and difficulties in mass production are encountered.

 

 

 

基材のプラスチックと化学的に結合するTetra-PEG gel等を気泡隔膜として用いることで、材料同士の結合強度が強くなり、基材と気泡隔膜が界面で剥離しない構造にすることができる。この材料の組み合わせにより、気泡による不具合が起こらず、長時間動作できる小型デバイスが実現した。

The bonding strength between the materials is increased by using Tetra-PEG gel as the bubble diaphragm which chemically bonds to the plastic of the base material, and a structure that does not peel off at the boundary of the base material and bubble diaphragm is obtained. This combination of materials enabled the realization of a compact device which can work for long durations without any of the problems due to the air bubbles.